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CST-50冲击式样缺口投影仪

时间:2017-06-07  来源:济南盈信试验技术有限公司   浏览次数: 227 次

CST-50冲击式样缺口投影仪

一、用途与特点

夏比冲击试验对于冲击试样缺口要求非常严格,缺口的微小变化,都会引起试验结果出现误差,为保证加工出的冲击试样缺口合格,缺口的加工质量检验是一个非常重要的控制手段。目前用光学投影放大检查是唯一切实可行,并能保证冲击试样缺口质量的方法。本设备是利用光学投影方法,将冲击试样缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V型或U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。本设备仅需电源,具有操作简便、检查对比直观、效率高、体积小、便于移动、易维护等优点。

该机是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,操作简便,检查对比直观、效率高,是目前唯一切实可行、并能保证检查质量的方法,是相关理化试验室的必备仪器。

二、主要技术参数

1、放大倍数:50×

物镜放大倍率:2.5×

投影物镜放大倍率:20×

2、投影屏直径:Φ200 mm

3、工作台尺寸:

方工作台:(110×125)mm

圆工作台:Φ90 mm

工作台玻璃直径:Φ70 mm

4、工作台行程:

纵向:±10 mm

横向:±10 mm

升降:±12 mm(无刻度)

5、工作台转动范围:0°-360°(无刻度)

6、光源(卤钨灯):12V 100W

7、电源:220V 150W

8、重量:约20kg

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